第161章 芯片测试(第1/4 页)

阳光洒在天宇科技的测试实验室里，这里即将展开对512兆存储芯片的全面测试，这是一个关键的时刻，关系到之前所有努力的成果。

王海涛、彼得罗夫和测试团队的成员们聚集在实验室，每个人的脸上都带着既紧张又期待的神情。他们深知，芯片虽然成功流片，但真正的考验才刚刚开始。

王海涛拿着装有流片后的芯片样本的盒子，小心翼翼地将芯片递给负责测试的工程师小李。“小李，这颗芯片凝聚了我们所有人的心血，测试的时候一定要仔细啊。”

小李接过芯片，郑重地点点头：“王主管，您放心吧。我会按照最严格的标准进行测试的。”

测试的第一步是外观检查。小李将芯片放在高倍显微镜下，仔细查看芯片的表面是否有划痕、杂质或者电路连接的瑕疵。他的眼睛紧紧盯着显微镜的目镜，不放过任何一个微小的细节。

“外观看起来很干净，没有明显的划痕和杂质，电路连接也正常。”小李汇报着初步检查的结果。

接下来是电气性能测试。这需要将芯片连接到专业的测试设备上，检测其电压、电流、功耗等各项电气参数。测试设备发出轻微的嗡嗡声，各种指示灯闪烁着，数据在屏幕上不断跳动。

彼得罗夫站在一旁，眼睛紧紧盯着数据。“目前电压和电流的初始读数在正常范围内，但我们还需要进一步进行稳定性测试。”

稳定性测试是一个漫长的过程，需要在不同的温度和湿度条件下，观察芯片电气参数的变化。测试团队将芯片放入特制的温湿度箱中，模拟各种恶劣的环境条件。